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UX-700 X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

  • 更新日期:2024-08-12
  • 訪問(wèn)次數(shù):2187?

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀UX-700:本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量,Ux-700更專業(yè)小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì),帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器,高分辨率的探測(cè)系統(tǒng),眾多Z佳條件的選擇,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無(wú)損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。

 

 

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀UX-700 華唯 

   配置型號(hào)

探測(cè)器

X光管

高壓電源

Ux-700 M

AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口)

上海科頤維(國(guó)產(chǎn))

咸陽(yáng)威思曼(國(guó)產(chǎn))

Ux-700 H

AMPTEK Si-PIN X-123(進(jìn)口)

上??祁U維(國(guó)產(chǎn))

spellman(進(jìn)口)

Ux-700 S

AMPTEK SDD X-123(進(jìn)口)

上海科頤維(國(guó)產(chǎn))

spellman(進(jìn)口

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀UX-700產(chǎn)品指標(biāo):

測(cè)厚技術(shù):X射線熒光測(cè)厚技術(shù)

測(cè)試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層

測(cè)量下限:0.003um

測(cè)量上限:30-50um(以材料元素判定)

測(cè)量層數(shù):10層

測(cè)量用時(shí):30-120秒

探測(cè)器類型:Si-PIN電制冷   

探測(cè)器分辨率:149eV

高壓范圍:5-50Kv,50W

X光管參數(shù):5-50Kv,50W,側(cè)窗類;

光管靶材:Mo靶;

濾光片:鍍層濾光片

CCD觀察:260萬(wàn)像素

微移動(dòng)范圍:XY15mm

輸入電壓:AC220V,50/60Hz

測(cè)試環(huán)境:非真空條件

數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式

準(zhǔn)直器:Ø0.5mm

軟件方法:FlexFP-Mult

工作區(qū):開(kāi)放工作區(qū) 自定義

樣品腔:70*20mm

整機(jī)重量:38kg

 

UX-700產(chǎn)品介紹:

    本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量,Ux-700更專業(yè)小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì),帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器,高分辨率的探測(cè)系統(tǒng),眾多*條件的選擇,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

    X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無(wú)損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。

    Ux-700鍍層測(cè)厚儀配備了XY軸微移動(dòng)平臺(tái),可以通過(guò)鼠標(biāo)的點(diǎn)擊操作,選擇樣品的多點(diǎn)測(cè)試,特別適應(yīng)于細(xì)小結(jié)構(gòu)多種不同鍍層材料的測(cè)試。

    Ux-700鍍層測(cè)厚儀具有高清晰、高放大倍數(shù)的攝像設(shè)備,測(cè)試樣品的部位清楚明了,同時(shí)攝像設(shè)備拍抓測(cè)試部位的圖片,和測(cè)試數(shù)據(jù)結(jié)果一同出現(xiàn)在測(cè)試報(bào)告中。

    Ux-700鍍層測(cè)厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無(wú)鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度。

 

UX-700 鍍層測(cè)厚方法:

1.磁性涂層測(cè)厚法

    使用磁性測(cè)厚法可測(cè)鐵、鋼導(dǎo)磁金屬上面的所有非導(dǎo)磁金屬和所有非導(dǎo)電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。

2.渦流層層測(cè)厚法

    可以測(cè)量非導(dǎo)磁導(dǎo)電金屬上面非導(dǎo)電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度

3.X射線熒光法

    所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測(cè)試,同時(shí)可以測(cè)試鍍層材料的合金成分含量比例。

 

常用單位:

微米(um),微英寸(u‘’)俗語(yǔ)“邁”,密耳(mil)

1um=39.4邁, 1um=0.04mil

 

 

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