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產(chǎn)品圖片 產(chǎn)品名稱/型號 產(chǎn)品描述
  • X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720:Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結(jié)果業(yè)界*。 采用了FlexFP-Multi技術(shù),無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
  • X射線熒光鍍層測厚儀測量元素范圍:鈦Ti22---鈾U92; 測量5層(4層鍍層+底材層)鍍層,同時分析15種元素,自動修正X射線重疊譜線; 測量精度高、穩(wěn)定性好,測量結(jié)果*確至μin; 快速無損測量,測量時間短,10秒內(nèi)得出測量結(jié)果; 可分析固體、溶液;定性、半定量和定量分析; 進行貴金屬檢測。
  • 日本島津超聲波光學(xué)金屬表面探傷儀 島津的光學(xué)成像技術(shù),將超聲波振子和頻閃觀測器相結(jié)合,在試樣表面使用超聲波振蕩器振動,表面因超聲波傳輸受到的微小位移用激光照射和光學(xué)相機實現(xiàn)可視化,從而根據(jù)超聲波的間斷來檢測出缺陷。超聲波光學(xué)探傷裝置MIV-X可以使傳統(tǒng)超聲檢測難以發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部缺陷可視化。
  • X射線熒光鍍層測厚儀 Ux-720:Ux-720新一代國產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測器),測量精度和測量結(jié)果業(yè)界。 采用了FlexFP-Multi技術(shù),無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制,還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢,我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
  • TREK重錘式表面電阻測試儀 無損檢測儀 Trek-152-1 表面電阻測試儀是用來測量各種傳導(dǎo)、損耗、絕緣的面電阻
  • X射線熒光鍍層測厚儀品牌:本著對插接件等細小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業(yè)小樣品測試腔的設(shè)計,帶有聚焦光點的準直器,高分辨率的探測系統(tǒng),眾多Z佳條件的選擇,保證測試結(jié)果的準確性。X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。
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