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X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國(guó)產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測(cè)儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測(cè)器），測(cè)量精度和測(cè)量結(jié)果業(yè)界*。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測(cè)的需求。

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀測(cè)量元素范圍：鈦Ti22---鈾U92； 測(cè)量5層（4層鍍層+底材層）鍍層，同時(shí)分析15種元素，自動(dòng)修正X射線重疊譜線； 測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好，測(cè)量結(jié)果*確至μin； 快速無損測(cè)量，測(cè)量時(shí)間短，10秒內(nèi)得出測(cè)量結(jié)果； 可分析固體、溶液；定性、半定量和定量分析； 進(jìn)行貴金屬檢測(cè)。

日本島津超聲波光學(xué)金屬表面探傷儀 島津的光學(xué)成像技術(shù)，將超聲波振子和頻閃觀測(cè)器相結(jié)合，在試樣表面使用超聲波振蕩器振動(dòng)，表面因超聲波傳輸受到的微小位移用激光照射和光學(xué)相機(jī)實(shí)現(xiàn)可視化，從而根據(jù)超聲波的間斷來檢測(cè)出缺陷。超聲波光學(xué)探傷裝置MIV-X可以使傳統(tǒng)超聲檢測(cè)難以發(fā)現(xiàn)的內(nèi)部缺陷可視化。

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀 Ux-720：Ux-720新一代國(guó)產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測(cè)儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測(cè)器），測(cè)量精度和測(cè)量結(jié)果業(yè)界。 采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測(cè)的需求。

TREK重錘式表面電阻測(cè)試儀 無損檢測(cè)儀 Trek-152-1 表面電阻測(cè)試儀是用來測(cè)量各種傳導(dǎo)、損耗、絕緣的面電阻

X射線熒光鍍層測(cè)厚儀品牌：本著對(duì)插接件等細(xì)小結(jié)構(gòu)件的單鍍層和多鍍層厚度的測(cè)量，Ux-700更專業(yè)小樣品測(cè)試腔的設(shè)計(jì)，帶有聚焦光點(diǎn)的準(zhǔn)直器，高分辨率的探測(cè)系統(tǒng)，眾多Z佳條件的選擇，保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn)，對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。